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工業(yè)CT斷層掃描測(cè)量機(jī)

型    號(hào):Werth TomoScope
所屬分類:X射線工業(yè)CT斷層掃描測(cè)量?jī)x
報(bào)    價(jià): 市場(chǎng)價(jià):
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工業(yè)CT斷層掃描測(cè)量機(jī)可實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品無(wú)損可視化準(zhǔn)確測(cè)量,并可選配光學(xué)、光纖、探針、激光掃描等多種傳感器。對(duì)工件內(nèi)外部所有結(jié)構(gòu)尺寸全面的高精密測(cè)量,同時(shí)可實(shí)現(xiàn)工件材質(zhì)的缺陷分析。可對(duì)塑料、陶瓷、復(fù)合材料、金屬等多種材質(zhì)制成的產(chǎn)品進(jìn)行無(wú)損尺寸測(cè)量和裝配評(píng)估等。

Werth TomoScope工業(yè)CT斷層掃描測(cè)量機(jī)的詳細(xì)資料:



Werth*家將X射線掃描成像技術(shù)整合到三坐標(biāo)測(cè)量系統(tǒng),工業(yè)CT斷層掃描測(cè)量機(jī)可實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品無(wú)損可視化準(zhǔn)確測(cè)量,并可選配光學(xué)、光纖、探針、激光掃描等多種傳感器。對(duì)工件內(nèi)外部所有結(jié)構(gòu)尺寸全面的高精密測(cè)量,同時(shí)可實(shí)現(xiàn)工件材質(zhì)的缺陷分析??蓪?duì)塑料、陶瓷、復(fù)合材料、金屬等多種材質(zhì)制成的產(chǎn)品進(jìn)行無(wú)損尺寸測(cè)量和裝配評(píng)估等。壓縮測(cè)量周期的同時(shí),保證了高品質(zhì)的要求。此工業(yè)CT斷層掃描測(cè)量機(jī)榮獲2005年度歐洲模具設(shè)計(jì)金獎(jiǎng)。

 

想要了解更多工業(yè)CT斷層掃描測(cè)量機(jī),工業(yè)CT測(cè)量?jī)x信息,可聯(lián)系我們。



主要特點(diǎn)
  *家將X射線斷層掃描成像技術(shù)整合到三坐標(biāo)測(cè)量系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)復(fù)雜部件高精度內(nèi)外尺寸全面測(cè)量
  可選配第二個(gè)Z軸,配置其他傳感器(光學(xué)、探  針、光纖、激光等)
Werth公司技術(shù)復(fù)合式傳感器技術(shù),進(jìn)一步保證 CT測(cè)量數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確
堅(jiān)固的花崗巖基座,保證機(jī)器具有高穩(wěn)定性
高精密機(jī)械軸承技術(shù)及線性導(dǎo)軌系統(tǒng),確保實(shí)現(xiàn)zui  高精度的測(cè)量
無(wú)論從設(shè)計(jì)還是結(jié)構(gòu),測(cè)量機(jī)*并超出X射線使用安全標(biāo)準(zhǔn)
基于Werth公司優(yōu)異的圖形處理及3D重構(gòu)技術(shù),測(cè)量速度更快 
  Werth公司技術(shù)的X射線傳感器獨(dú)立校準(zhǔn)系統(tǒng)
  Werth公司技術(shù)的柵格斷層掃描技術(shù):
        精密測(cè)量微小部件
        掃描更大尺寸工件,提高分辨率
        擴(kuò)展測(cè)量范圍
  測(cè)量軟件可快速3D重構(gòu),也可進(jìn)行2D測(cè)量
  測(cè)量工件內(nèi)部尺寸的同時(shí),也可實(shí)現(xiàn)材質(zhì)缺陷分析
  選用廣泛應(yīng)用的WinWerth軟件 (德國(guó)國(guó)家計(jì)量院PTB長(zhǎng)度標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證) ,界面友好,操作簡(jiǎn)單
  可使用*擬合Bestfit及公差擬合Tolerancefit軟件進(jìn)行輪廓匹配分析及三維CAD工件公差比對(duì)
  廣泛應(yīng)用于復(fù)雜尺寸測(cè)量,*評(píng)估,逆向工程,質(zhì)量控制等

應(yīng)用領(lǐng)域: 模具行業(yè)、逆向工程、汽車行業(yè)、航空航天、精密機(jī)械加工、船舶等

 

技術(shù)參數(shù)

   號(hào)

TomoScope HA

TomoCheck

TomoScope

HV Compact

TomoScope HV 500

zui大測(cè)量工件尺寸(直徑)

90mm

90/200/200mm

180/350mm

360/500mm

zui大測(cè)量高度

285mm

240/360/400mm

180/520mm

380/700mm

zui大允許誤差 (CT傳感器)

(4,5+L/75) µm

(1,5+L/500) µm

(4,5+L/75) µm

(4,5+L/75) µm

zui大允許誤差(E1:單軸精度)

(2,5+L/120) µm

(0,5+L/900)µm

(2,5+L/120) µm

(2,5+L/120) µm

     (E2:平面精度)

(2,9+L/100) µm

(0,7+L/600) µm

(2,9+L/100) µm

(2,9+L/100) µm

   (E3:空間精度)

(4,5+L/75) µm

(1,5+L/500) µm

(4,5+L/75) µm

(4,5+L/75) µm

X射線源可選

130/150/190kV

130/150/190/225kV

225/300/320kV

225/300/320/450kV

X射線探測(cè)器像素

1024x1024

1024x1024

2048x2048

2048x2048

X射線探測(cè)器尺寸

50x50mm

50x50mm

200x200mm

400x400mm

分辨率

0.1µm

0.1/0.01µm

0.1µm

0.1µm

定位速度

150mm/s

60mm/s

150mm/s

150mm/s

加速度

300mm/s2

250 mm/s2

350 mm/s2

350 mm/s2

工作臺(tái)承重

2kg

10kg

40kg

40kg

電源

230V +/-10%

3x400V/N/PE

3x400V/N/PE

3x400V/N/PE

氣壓

7-10bar

7-10bar

7-10bar

7-10bar

儀器自重

3000kg

6000kg

11000kg

13000kg

1). 依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)ISO 10360和VDI/VDE 2617,使用TP200, WFP測(cè)量或CT傳感器選擇同等及更高精度探針修正或光學(xué)傳感器選用同等及更高精度探針修正
2). Temp: 20℃±2k, △=1K/h m≤2kg

 

X射線穿透能力:
 Werth獨(dú)有的用于高精度、高分辨率測(cè)量的穿透型標(biāo)靶射線源。此標(biāo)靶在高管電壓(如300KV)和大管電流的情況下能夠長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定地保持微米級(jí)的焦點(diǎn)尺寸,這樣就能用微米級(jí)焦點(diǎn)的X射線快速的高精度、高分辨率進(jìn)行測(cè)量高密度(如鋼)較大尺寸的零件。

 

      高精度工業(yè)CT的復(fù)合測(cè)量,特別是在金屬、陶瓷、復(fù)合材料的測(cè)量具有很大的優(yōu)勢(shì),我們也可提供付費(fèi)測(cè)量服務(wù),具體可咨詢我們銷售。

 應(yīng)用實(shí)例:

TomoScope X射線坐標(biāo)測(cè)量機(jī)


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